In the original languageTranslation into English
ИННОВАЦИОННЫЙ ИЗМЕРИТЕЛЬ ЗАТУХАНИЯ ОПТИЧЕСКОЙ МОЩНОСТИ
Authors
Ёдгорова Дилбар Мустафаевна, Закиров Руслан Гильмуллаевич, Гиясова Феруза Абдиазизовна, Рахматов Ахмад Зайнитдинович
Rubric:Technical sciences in general
336
0
Share
336
0
Annotation
В настоящей работе произведен анализ вариантов реализации измерителя затухания оптической мощности. В результате анализа выбран вариант на базе микроконтроллера, который основан на широких возможностях существующей элементной базы, совместимой с ТТЛ-логикой микроконтроллеров различного типа. К преимуществам измерителя затухания оптической мощности можно отнести широкий диапазон измерений, высокую точность и надежность прибора.
Keywords
Измеритель затухания
оптический тестер
оптическая мощность
микроконтроллер
принципиальная электрическая схема
оптический усилитель.
Authors
Ёдгорова Дилбар Мустафаевна, Закиров Руслан Гильмуллаевич, Гиясова Феруза Абдиазизовна, Рахматов Ахмад Зайнитдинович
Rubric:Technical sciences in general
336
0
Share
336
0
References:
- W. Loh, S. Yegnanarayanan, F. O’Donnell, et al., “Ultra-narrow linewidth Brillouin laser with nanokelvin temperature self-referencing,” Optica , vol. 6, pp. 152–159, 2019. [doi:10.1364/OPTICA.6.000152].
- C. Pyrlik, W. Lewoczko-Adamczyk, S. Schwertfeger, et al., “Ultra-Narrow Linewidth, Micro-Integrated Semiconductor ExternalCavity Diode Laser Module for QuantumOptical Sensors in Space,” in 2015 Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO), 1–2 , 2015. [doi:10.1364/CLEO AT.2015.JTh2A.79].
- T. Kessler, C. Hagemann, C. Grebing, et al., “A sub-40-mHz-linewidth laser based on a silicon single-crystal optical cavity,” Nature Photonics, vol. 6, no.10, pp. 687 – 692, 2012. [doi: 10.1038/NPHOTON.2012.217].
- H. Al-Taiy, N. Wenzel, S. Preussler, et al., “Ultra-narrow linewidth, stable and tunable laser source for optical communication systems and spectroscopy,” Optics Letters , vol. 39 , no. 20,pp. 5826-5829, 2014.[doi: 10.1364/OL.39.005826].
- R. C. Kamikawachi, I. Abe, H. J. Kalinowski, J.L. Fabris, J.F. Pinto, “Nonlinear temperature dependence of etched fiber Bragg gratings,” IEEE Sensors Journal, vol. 7, no. 8, pp. 1358-1359, 2007. [doi: 10.1109/JSEN.2007.905032]
- Данченко Д. Г. Использование отладочной платы STM32F4 Discovery для макетирования микропроцессорных устройств // Молодой ученый. Казань. - 2017. - № 51. - С. 37-42.
- Полезная модель. FAP 01546 от 29.09.2020 «Фотоприемное устройство» / Гиясова Ф.А., Каримов А.В., Ёдгорова Д.М., Абдулхаев О.А., Юлдашев Б.Ш.
Other articles of the issue
